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PhenoTron®-HSI 種質資源高光譜成像分析系統
更新時間：2025-07-02
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PhenoTron®-HSI種質資源高光譜成像分析系統，是易科泰公司推出的可用于種質資源檢測鑒定、種子活力檢測、種質資源表型性狀監測評估的高光譜成像分析系統，具備快速、非損傷、高通量特點。可應用于種子、幼苗及根系等種質資源表型性狀成像分析、葉綠素熒光成像檢測、次級代謝產物熒光成像分析、種子活力檢測、成分含量分析、種質資源性狀監測評估等。
| 品牌 | 其他品牌 | 成像方式 | 推掃式 |
|---|---|---|---|
| 價格區間 | 面議 | 使用狀態 | 機載/地面均可 |
| 工作原理 | 推掃型 | 應用領域 | 環保,農林牧漁,地礦,道路/軌道/船舶,綜合 |
種子及種苗形態結構、活力、適合度、抗逆性、脅迫敏感性、生理生化指標等是作物種質資源品質監測評估的重要指標體系，其中種子活力是種子發芽和出苗率、幼苗生長的潛勢、植株抗逆能力和生產潛力的總和（發芽和出苗期間的活性水平與行為），是種子品質的重要指標，具體包括吸漲后旺盛的代謝強度、出苗能力、抗逆性、發芽速度及同步性、幼苗發育與產量潛力。種子活力是植物的重要表型特征，傳統檢測方法包括低溫測試（cold test）、高溫加速衰老測試（accelerated aging test）、幼苗生長測定等。
PhenoTron®-HSI種質資源高光譜成像分析系統，是易科泰公司推出的可用于種質資源檢測鑒定、種子活力檢測、種質資源表型性狀監測評估的高光譜成像分析系統，具備快速、非損傷、高通量特點。可應用于種子、幼苗及根系等種質資源表型性狀成像分析、葉綠素熒光成像檢測、次級代謝產物熒光成像分析、種子活力檢測、成分含量分析、種質資源性狀監測評估等，還可應用于雜質檢測、病原體檢測、成分檢測、種質資源數字化、種苗（包括根系）成像分析、遺傳育種性狀檢測與抗性篩選等。
產品特點：
ü PTS技術，集樣品自動傳送、無線控制、同步掃描成像分析、環境光屏蔽等功能于一體
ü 雙重控制：嵌入式操作系統+PC端GUI軟件，無線控制平臺運行
ü 組合命令：支持自定義Protocols，可設置10條以上命令，實現系統自動運行
ü 內置溫濕度、光照度傳感器、時鐘，實時反饋環境參數，可一鍵同步電腦時間
ü 集高光譜成像分析技術、高光譜熒光成像分析技術于一體，全面分析種質資源光譜指紋、生理生化組成（蛋白質、脂肪含量等）、種子活力等
ü 可選配Thermo-RGB紅外熱成像分析，用于種質資源綜合檢測、種子萌發散熱測量（反應種子代謝強度等）及種苗氣孔動態分析等
ü 可選配紫外光激發生物熒光成像模塊，進行紫外光激發葉綠素熒光成像和BGF（藍綠熒光）成像分析，高通量、高靈敏度檢測種苗活力、光合效率及抗逆性，種質資源生理功能數字化數據庫建設等
技術指標：
ü 平臺高度規格：標配400mm，可定制
ü 有效掃描尺寸：≥300×300mm，可定制
ü 移動速度：2-40mm/s，可調，精度：1mm
ü 主機箱：內置10寸觸控屏，嵌入式操作系統，全波段對稱光源，角度、高度可調，集開關控制、平臺控制、雜散光隔離于一體，確保光場均一、穩定的最佳測量環境
ü 成像傳感器選配：
型號 | PhenoTron-FX10 | PhenoTron-FX10/17 | PhenoTron-sCMOS | PhenoTron-SWIR |
波段范圍 | 400-1000nm | 400-1700nm | 400-1000nm | 1000-2500nm |
光譜分辨率 | 5.5nm | 5.5nm / 8nm | 2.9nm | 12nm |
光譜通道 | 224（bin=2） | 224（bin=2）/ 224 | 946 | 288 |
空間像素 | 1024 | 1024 / 640 | 2184 | 384 |
信噪比 | 400:1 | 400:1 / 1000:1 | 170:1-680:1 | 1050:1 |
數值孔徑 | F/1.7 | F/1.7 | F/2.4 | F/2.0 |
幀頻 | 330FPS | 330FPS / 670FPS | 100FPS | 450FPS |
UV-MCF-M | 可選配 | 可選配 | 可選配 | 不可選配 |
ü SpectrAPP®高光譜成像分析軟件：
a) 可進行偽彩色/灰度顯示、波段融合、ROI選區、光譜指數分析、光譜曲線繪制、光譜特征統計、直方圖統計、結果圖/表導出等；
b) 可分析NDVI、PRI、DCNI、CRI、ARI、PSRI、NPQI、EVI、HI、WBI等數十種VIs參數，研究植物表型及結構信息、生物及非生物脅迫、色素含量、理化性狀、種質、中藥材及果實品種品質等指標；
ü FluorVision©高光譜熒光成像分析軟件：
a) 基本分析：具備偽彩色/灰度顯示、旋轉顯示、閾值掩膜、波段融合、手動/自動ROI分析、光譜曲線繪制、光譜平滑、光譜特征統計、路徑分析、圖/表導出等功能；
b) 熒光參數分析：可分析F440、F520、F690、F740、F690/F740、F520/F690、F735/F700、F440/F520、F440/F690、F440/F740等多種熒光參數，支持擴展；
c) 形態參數分析：可分析色素或校準面積、圓滑度（Circularity）、長寬比（Aspect ratio）、緊實度（Solidity）、圓度（Roundness）等；
應用案例：
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